深圳谷易电子生产的FBGA441pin芯片测试座socket—FBGA芯片测试夹具_简介_性能_特点_规格_应用

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主营产品：定制测试座、老化测试座、弹片微针模组、memory测试座、测试夹具、BGA老化测试、QFN老化测试、Flash闪存测试、编程烧录座

BGA封装系列

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FBGA441pin芯片测试座socket—FBGA芯片测试夹具

FBGA441pin芯片测试座socket规格参数：
芯片封装形式：FBGA
芯片引脚：441pin
芯片引脚间距：0.8mm
适配芯片尺寸：17.2*17.2mm

深圳谷易电子生产的FBGA441pin芯片测试座socket—FBGA芯片测试夹具的产品简介、性能、特点、规格、应用、生产厂家介绍

适用FBGA441pin芯片测试环境：老化、测试、烧录

FBGA441pin芯片测试夹具产品简介：

芯片测试频率：1Ghz

芯片测试电流：1A

芯片测试温度：-45°~+135°

芯片测试socket结构：旋钮翻盖式

芯片测试夹具材料：PEI