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QFN32-0.35/0.4/0.5间距4×4烧录座老化座下压镀金弹片

发表时间:2022-06-16 10:29:15浏览量:1193

产品简介 A、产品用途:编程座、测试座,对QFN32的IC芯片进行老化、测试 可用于作HOTL\HAST老化试验 B、适用封装:QFN32 C、测试座:QFN32-0.4/0.35*0.5 D、特点:采用U型顶针,接触更稳定,寿命...

深圳谷易电子生产的QFN32-0.35/0.4/0.5间距4×4烧录座老化座

产品简介


A、产品用途:编程座、测试座,对QFN32的IC芯片进行老化、测试

可用于作HOTL\HAST老化试验

B、适用封装:QFN32

C、测试座:QFN32-0.4/0.35/0.5

D、特点:采用U型顶针,接触更稳定,寿命长,机械寿命:10W次

E、工作温度:-55℃~155℃    电流:1A max

F、我司可提供规格书(布板图)