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主营产品:定制测试座、老化测试座、弹片微针模组、memory测试座、测试夹具、BGA老化测试、QFN老化测试、Flash闪存测试、编程烧录座

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UFS2.0翻盖旋钮探针测试座

产品特性:
类型:测试及老化(不带PCB)
封装:UFS2.0/2.1
PIN数:153/169针
间距::0.5mm

适用于IC尺::11.5*13mm




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