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3C锂电池连接器大电流弹片微针模组

      当前,锂电池产品测试的难点在于电流大(充放电过流保护测试项目要求过4.5-40A这个范围),传统的探针测试治具里探针可过电流至多只能达2A,所以就没有办法用传统探针治具来进行测试。现在......

提供d-摄像头及触摸IC解决方案

1、采用手动翻盖/手自一体,定位精确,操作方便 2、采用进口镀金探针和防静电材料(Torlon、PEI、PPS、PEEK) 3、压板自动调节对IC的压力,保证下压力均匀;探针自适应能力强,对残球、锡球不均的IC都能......

Nand Flash 半自动测试机台

谷易电子为您提供Nand Flash半自动测试机台系列可用于BGA152/132 / TSOP48 / TF / COB(長) / COB(短)...

谷易电子提供eMMC/eMCP测试解决方案

采用手动翻盖/双扣式结构,操作方便;上盖的IC压板采用旋压式结构,下压平稳,保证IC的压力均匀,不移位...

发展历程

每一年我们都向前迈进一小步

谷易介绍

20年用心质造,国内外IC测试座品牌供应商

19年前,谷易电子于深圳华强北起家,创始人发现中国人一直都是用进口的测试座,价格非常昂贵且没有售后可言,于是萌生了一定要让中国人用上物美价廉的优质IC测试座的想法。经过19年的深耕细作,已成为今天集科研、生产、销售于一体的技术型高新企业。并在苏州/武汉/深圳设立生产工厂,成立IC测试座研发中心,配备高学历经验丰富的高级工程师,引进全套日本进口的检测仪器设备。凭借自身完善的质量保证体系,已实现技术开发、生产装配、质量检测、老化筛选、大批量生产流程的规范化管理。...

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新闻动态

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在汽车车规级芯片测试中,为什么车规芯片必须做可靠性测试?芯片老练夹具有什么作用?

2025-07-02
新闻动态
在汽车车规级芯片测试中,车规芯片必须做可靠性测试,原因如下: 严苛工作环境要求:汽车运行环境复杂,车规芯片要承受极端温度。如发动机舱内温度区间为 -40°C~150°C,...

谷易半导体芯片测试夹具与芯片老炼测试夹具的区别

2025-06-30
新闻动态
应用场景与目的差异 半导体芯片测试夹具主要用于芯片生产过程中的各类常规测试环节,目的在于快速筛选出有功能性缺陷的芯片。在芯片制造完成封装后,利用测试夹具连接测试设...

谷易测试工程师:什么是芯片测试夹具?芯片测试如何选择芯片测试夹具?

2025-06-25
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芯片测试夹具是芯片测试过程中至关重要的工具,它的性能优劣直接关系到测试结果的准确性和可靠性。随着芯片技术的飞速发展,芯片...

光电模块的应用与可靠性测试及老炼测试夹具的关键应用

2025-06-23
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光电模块工作原理 光电模块作为光通信系统的核心部件之一,承担着光电信号相互转换的关键任务。在发送端,其内部的驱动电路将输入...

谷易电子半导体芯片测试夹具与芯片老炼测试夹具的区别

2025-06-18
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应用场景与目的差异 半导体芯片测试夹具主要用于芯片生产过程中的各类常规测试环节,目的在于快速筛选出有功能性缺陷的芯片。在芯...
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