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主营产品:定制测试座、老化测试座、弹片微针模组、memory测试座、测试夹具、BGA老化测试、QFN老化测试、Flash闪存测试、编程烧录座

QFN/DFN封装系列

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DFN8_WSON8_1.27(5X6)下压探针老化座socket

产品用途:编程座、测试座,对QFN8的IC芯片进行烧写、测试

适用封装:QFN8引脚间距1.27mm

测试座:QFN8-1.27

特点:采用进口探针,接触更稳定,寿命更长