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主营产品:定制测试座、老化测试座、弹片微针模组、memory测试座、测试夹具、BGA老化测试、QFN老化测试、Flash闪存测试、编程烧录座
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发表时间:2021-06-09 10:28:32浏览量:2056【小中大】
QFN40-0.5翻盖弹片单层板烧录座/QFN芯片测试座
产品简介
1、产品用途:编程座、测试座,对QFN40的IC芯片进行烧写、测试
2、适用封装:QFN40引脚间距0.5mm
3、测试座:QFN40-0.5
4、特点:采用U型顶针,接触更稳定
规格尺寸
型号:QFN-40-0.5
引脚间距(mm):0.5
脚位:40
适配芯片尺寸:6*6mm
产品图片:
微信手机号:19925424290
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