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主营产品:定制测试座、老化测试座、弹片微针模组、memory测试座、测试夹具、BGA老化测试、QFN老化测试、Flash闪存测试、编程烧录座

QFN/DFN封装系列

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QFN32_0.5翻盖弹片IC老化座

产品用途:编程座、测试座,对QFN32的IC芯片进行烧写、测试

适用封装:QFN32引脚间距0.5mm

测 试 座:QFN32-0.5

特 点:底部引出引脚为不规则排列


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