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主营产品:定制测试座、老化测试座、弹片微针模组、memory测试座、测试夹具、BGA老化测试、QFN老化测试、Flash闪存测试、编程烧录座
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LGA老化测试座规格
芯片封装类型:LGA
芯片引脚:4pin
芯片引脚间距:0.98mm
芯片尺寸:1.65×2.05mm
结构:翻盖式
现货标品
深圳谷易电子生产的LGA4pin-0.98mm(1.65X2.05mm)晶振老化测试座
晶振老化座、LGA老化座
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