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“谷”聚天下之检测
“易”通世界之雄芯
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深圳市谷易电子有限公司
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主营产品：定制测试座、老化测试座、弹片微针模组、memory测试座、测试夹具、BGA老化测试、QFN老化测试、Flash闪存测试、编程烧录座
SOT89-3L老化座规格参数：
芯片封装类型：SOT89
芯片引脚：3pin
引脚间距：1.5mm
芯片尺寸：4.5×2.45mm
深圳谷易电子生产的SOT89-3L封装芯片探针老化座
SOT老化座、SOT测试座
SOT89-3L老化测试要求：
老化测试温度：125°，老化时长：1000小时
老化测试电流：100mA，0.5w
芯片需接地PAD，加铜块散热
老化座材料：合金
老化座结构：翻盖式
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