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主营产品:定制测试座、老化测试座、弹片微针模组、memory测试座、测试夹具、BGA老化测试、QFN老化测试、Flash闪存测试、编程烧录座

BGA封装系列

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BGA77pin芯片探针测试座-带散热块

BGA77pin芯片测试座规格参数

芯片封装类型:BGA

芯片引脚数:77pin

芯片引脚间距:1.27mm

芯片尺寸:9×15mm

芯片厚度:4.8mm


深圳谷易电子提供各类BGA芯片测试座的生产、加工定制、批发、售后等服务,不同芯片的高低温测试座、flash芯片测试座均有提供,欢迎来电咨询。

BGA芯片测试座、BGA芯片老化座、BGA芯片烧录座、BGA芯片测试架、BGA芯片测试治具、BGA芯片测试夹具

测试要求:

测试温度:-40°~+135°

测试电流:1A以内

测试频率:无要求

该款仅增加了一个散热铜块,和前面的BGA77pin座子一样