深圳谷易电子生产的BGA200pin芯片探针测试座socket_概述_性能_特点_规格_应用

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主营产品：定制测试座、老化测试座、弹片微针模组、memory测试座、测试夹具、BGA老化测试、QFN老化测试、Flash闪存测试、编程烧录座

BGA封装系列

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BGA200pin芯片探针测试座socket

BGA200pin芯片测试座规格参数芯片封装类型：BGA
芯片引脚：200pin
芯片引脚间距：0.65mm
芯片尺寸：10×14.5mm

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BGA芯片测试座、BGA芯片老化座、BGA芯片烧录座

BGA200pin芯片（LPDDR4芯片）测试条件要求：

需要跑3200Gbps全告诉测试

芯片测试频率：1666Mhz

芯片测试电流、温度：无需求

测试座结构：翻盖式

测试座材料：合金