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主营产品:定制测试座、老化测试座、弹片微针模组、memory测试座、测试夹具、BGA老化测试、QFN老化测试、Flash闪存测试、编程烧录座

BGA封装系列

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陶瓷封装BGA868pin芯片测试座socket

陶瓷封装BGA868pin芯片测试座规格参数:
芯片封装形式:BGA
芯片引脚:868pin
芯片引脚间距:1.0mm
适配芯片尺寸:32*32mm

深圳谷易电子生产的陶瓷封装BGA868pin芯片测试座socket的产品概述、性能、特点、规格、应用、生产厂家介绍

适用BGA/FC-CCGA868pin芯片测试环境:老化、烧录、测试

陶瓷封装BGA868pin芯片测试座产品简介:

芯片测试电压:单只脚电压<5V

芯片测试频率:100Mhz

芯片测试温度:150°,持续1000小时

芯片测试座结构:旋钮翻盖式

芯片测试座:合金