深圳谷易电子生产的BGA1268（实际下针340pin)探针测试座-bga芯片测试夹具_概述_性能_特点_规格_应用

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主营产品：定制测试座、老化测试座、弹片微针模组、memory测试座、测试夹具、BGA老化测试、QFN老化测试、Flash闪存测试、编程烧录座

BGA封装系列

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BGA1268（实际下针340pin)探针测试座-bga芯片测试夹具

BGA1268pin芯片测试夹具规格参数：
芯片封装形式：BGA
芯片引脚：1268pin（实际下针340pin）
芯片引脚间距：0.5mm
适配芯片尺寸：25.6*15.3mm

深圳谷易电子生产的BGA1268（实际下针340pin)探针测试座-bga芯片测试夹具的产品概述、性能、特点、规格、应用、生产厂家介绍

适用BGA1268pin芯片测试环境：老化、测试、烧录，适用于常规导通测试

BGA1268pin芯片测试座产品简介：

芯片测试频率：1Ghz

芯片测试电流：500mA

芯片测试温度：-45°~+125°

芯片测试座结构：旋钮翻盖式

芯片测试座材料：合金