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BGA封装系列

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BGA420pin芯片测试治具—BGA芯片测试架

BGA420pin芯片测试治具规格参数:
芯片封装形式:BGA
芯片引脚:420pin
芯片引脚间距:1.0mm
适配芯片尺寸:23*23mm
接触介质:探针
测试治具结构:旋钮翻盖式
测试治具材料:合金、PEEK

谷易电子生产提供封装种类齐全BGA/EMMC/EMCP/QFP/QFN/SOP/SOT/TO/LGA/LCC/DDR/FPC/connector/IMU socket等,大量现货标准品,并支持一件定制。

深圳谷易电子生产的BGA420pin芯片测试治具—BGA芯片测试架的产品简介,性能,特点,规格,应用,生产厂家介绍

产品介绍: 
产品名称:BGA420pin-1.0mm-23x23mm合金翻盖芯片测试治具
使用用途:对BGA420pin芯片进行模拟电路测试、性能测试用,支持芯片功能性测试、芯片可靠性测试 
性能参数:频率10G 速率10Gbps 电压3.3v