深圳谷易电子生产的BGA154pin芯片测试座socket—存储芯片测试座解决方案,简介,性能,特点,规格,应用,生产厂家

深圳市谷易电子有限公司欢迎您！

热搜关键词： 微针模组、BGA、DDR、SOP/TSOP、QFP、TO封装系列

深圳市谷易电子有限公司

联系电话：13823541376

联系人：兰小姐

邮箱：sales@goodesocket.com

主营产品：定制测试座、老化测试座、弹片微针模组、memory测试座、测试夹具、BGA老化测试、QFN老化测试、Flash闪存测试、编程烧录座

BGA封装系列

当前位置：首页 > 产品中心 > BGA封装系列

BGA154pin芯片测试座socket—存储芯片测试座解决方案

BGA154pin芯片测试夹具规格参数:
芯片封装形式：BGA
芯片引脚：154pin（实际下针110pin）
芯片引脚间距：0.8mm
适配芯片尺寸：11.5*13.5mm
接触介质：探针
测试座结构：下压式
测试座材料：PEI+PEEK

深圳谷易电子生产的BGA154pin芯片测试座socket—存储芯片测试座解决方案的产品简介,性能,特点,规格,应用,生产厂家介绍

深圳谷易电子生产提供封装种类齐全BGA/EMMC/EMCP/QFP/QFN/SOP/SOT/TO/LGA/LCC/DDR/FPC/connector/IMU socket等,大量现货标准品,并支持一件定制。

产品介绍：
产品名称:BGA154pin-0.8mm塑胶下压式存储芯片测试座
使用用途:对BAG154pin芯片进行模拟电路测试,性能测试用,支持芯片功能性测试,芯片可靠性测试
性能参数:频率1Ghz，无其他测试要求