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主营产品：定制测试座、老化测试座、弹片微针模组、memory测试座、测试夹具、BGA老化测试、QFN老化测试、Flash闪存测试、编程烧录座

BGA封装系列

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定制BGA489（下95pin）-0.5mm芯片测试座-BGA芯片测试socket

BGA489pin（下针95pin）芯片测试座规格参数:
芯片封装形式:BGA
芯片引脚:489pin（实际下针95pin）
芯片厚度:0.5mm
适配芯片尺寸:13.5*12.5*3.25mm
接触介质:探针
测试座结构:旋钮翻盖式
测试座材料:合金+PEEK

深圳谷易电子生产的BGA489（下95pin）-0.5mm芯片测试座socket的产品简介,性能,特点,规格,应用,生产厂家介绍

产品介绍：
产品名称:定制BGA489（下95pin）-0.5-13.5x12.25x3.25 合金旋钮翻盖探针测试座
使用用途:对BGA489pin芯片进行模拟电路测试、性能测试用，支持芯片功能性测试、芯片可靠性测试
性能参数:频率小于1Ghz,电流单pin小于1A,温度-45-125,还做振动测试,

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