深圳谷易电子生产的BGA64pin-0.8mm-（8×10mm-11×13mm）翻盖弹片老化测试座

特点:无需焊接，直接锁上螺丝即可。翻盖换取芯片方便，操作简单

描述；BGA64翻盖弹片老化座是我公司为了FLASH行业研发的低成本，下压结构节省测试环境空间，适合大批量老化测试！成为成本最低测方案，该产品采用弓形弹片结构，这种结构加上进口铍铜镀金有良好的伸缩性能，特殊的月牙形针头，更可以做到日本等品牌测试座做不到重要的特点：

我们的可以有球无球残球均可测试！而其他品牌只能测试新的有球的芯片。我们市场大部分flash产品的测试都是采用我们公司定义的eMMC标准脚位，为客户节约最大的成本！另外我公司有TSOP48双触点测试座，BGA107/100/132/137/149/152/169/162/LGA52\60各类转DIP48/SD/USB接口测试座）