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主营产品：定制测试座、老化测试座、弹片微针模组、memory测试座、测试夹具、BGA老化测试、QFN老化测试、Flash闪存测试、编程烧录座

BGA封装系列

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BGA272pin转DIP48pin闪存测试架-BGA272pin Flash芯片量产开卡测试座

封装类型：BGA

PIN脚：272pin

结构：翻盖式

转DIP48pin

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BGA272转DIP48测试架 BGA272测试座 SSD、U盘转DIP48flash测试架

座子设计成我司标准转DIP48的方式，可直接配合我们司提供的各种FLASH测试方案板上使用。
可配SMI2246测试板使用