深圳谷易电子生产的BGA96pin芯片测试治具—DDR96ball内存颗粒测试架_简介_性能_特点_规格_应用

深圳市谷易电子有限公司欢迎您！

热搜关键词： 微针模组、BGA、DDR、SOP/TSOP、QFP、TO封装系列

深圳市谷易电子有限公司

联系电话：13823541376

联系人：兰小姐

邮箱：sales@goodesocket.com

主营产品：定制测试座、老化测试座、弹片微针模组、memory测试座、测试夹具、BGA老化测试、QFN老化测试、Flash闪存测试、编程烧录座

DDR封装系列

当前位置：首页 > 产品中心 > DDR封装系列

BGA96pin芯片测试治具—DDR96ball内存颗粒测试架

DDR96ball内存颗粒测试治具规格参数：
芯片封装形式：DDR/BGA
芯片引脚：96pin
芯片引脚间距：0.8mm
适配芯片尺寸：7.5*13mm

深圳谷易电子生产的BGA96pin芯片测试治具—DDR96ball内存颗粒测试架的产品简介、性能、特点、规格、应用、生产厂家介绍

适用BGA96ball芯片测试环境：老化、测试、烧录

DDR96ball内存颗粒测试治具产品简介：

内存颗粒测试电流：1A以内

内存颗粒测试频率：600Mhz

高低温测试温度范围：-55°~+155°

DDR内存颗粒测试治具结构：翻盖式一拖双工位

内存测试治具材料：合金