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主营产品:定制测试座、老化测试座、弹片微针模组、memory测试座、测试夹具、BGA老化测试、QFN老化测试、Flash闪存测试、编程烧录座

DDR封装系列

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BGA200pin手机芯片测试治具—手机DDR内存颗粒测试治具

DDR200ball手机内存颗粒测试治具规格参数:
支持封装类型:DDR200ball/BGA200pin
芯片引脚:200pin
引脚间距:0.8mm
适配芯片尺寸:10*15mm

深圳谷易电子生产的BGA200pin手机芯片测试治具—手机DDR内存颗粒测试治具的产品简介、性能、特点、规格、应用、生产厂家介绍

适用DDR200ball/BGApin手机芯片测试环境:老化、测试、烧录

DDRball内存颗粒测试治具产品简介:

芯片测试速率:4000Mbps

芯片测试频率:1Ghz

芯片测试温度:-45°~+145°

手机BGA芯片测试治具结构:旋钮翻盖式

芯片测试治具材料:合金

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