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深圳市谷易电子有限公司
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主营产品:定制测试座、老化测试座、弹片微针模组、memory测试座、测试夹具、BGA老化测试、QFN老化测试、Flash闪存测试、编程烧录座
深圳谷易电子生产的BGA200pin手机芯片测试治具—手机DDR内存颗粒测试治具的产品简介、性能、特点、规格、应用、生产厂家介绍
适用DDR200ball/BGApin手机芯片测试环境:老化、测试、烧录
DDRball内存颗粒测试治具产品简介:
芯片测试速率:4000Mbps
芯片测试频率:1Ghz
芯片测试温度:-45°~+145°
手机BGA芯片测试治具结构:旋钮翻盖式
芯片测试治具材料:合金
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