深圳谷易电子生产的DDR3-84ball内存颗粒测试座socket—BGA84pin芯片测试夹具_简介_性能_特点_规格_应用

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主营产品：定制测试座、老化测试座、弹片微针模组、memory测试座、测试夹具、BGA老化测试、QFN老化测试、Flash闪存测试、编程烧录座

DDR封装系列

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DDR3-84ball内存颗粒测试座socket—BGA84pin芯片测试夹具

DDR3-84ball内存颗粒测试座规格参数：
支持芯片封装：DDR3代/BGA84pin
内存颗粒pin脚：84pin
芯片引脚间距：0.8mm
适配芯片尺寸：11.5*7.5mm

深圳谷易电子生产的DDR3-84ball内存颗粒测试座socket—BGA84pin芯片测试夹具的产品简介、性能、特点、规格、应用、生产厂家介绍

适用于DDR3-84pin内存颗粒测试环境：芯片可靠性测试、芯片性能测试、芯片功能性测试

BGA84ball芯片测试夹具产品简介：

芯片测试频率：200Mhz

芯片测试温度：-45°~+145°

芯片测试夹具结构：翻盖式

内存颗粒测试座材料：合金

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