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主营产品:定制测试座、老化测试座、弹片微针模组、memory测试座、测试夹具、BGA老化测试、QFN老化测试、Flash闪存测试、编程烧录座

DDR封装系列

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DDR1内存颗粒测试治具_TSOP66芯片测试架_机顶盒路由器内存测试

定制类型:QFN、DFN、集成模块、BGA等芯片的各种:测试座、老化座、测试治具、测试夹具、自动化设备等。
常见芯片:WIFI、互联网、传感器、车规芯片、电源芯片等。
PCB定制:可以提供通用转48pin双排针转接板、也可以根据需求定制,免费画板。
IC脚位间距:0.2、0.3、0.35、0.4、0.45、0.5、0.65、0.8、1.0、1.27、2.54mm等。
IC封装:QFN、QFP、BGA、DFN、传感器、晶振、电源芯片等(弹性结构,可兼容不同厚度)
高低温范围:常规-55°C~+180°C,更高温度可定制。
高低频率范围:常规1Ghz~5Ghz,更高频率可定制。
适用于:测试、烧录、老化、分析芯片。
使用寿命:普通测试、烧录10万次。(有更长可选用)
交期:普通交期3~5天,定制交期:7个工作日。


订购热线:19921126284


(电话微信同号)

工厂介绍

谷易电子生产DDR1内存颗粒测试治具_TSOP66芯片测试架    同时专业定制BGA,LGA,CSP,QFN,DFN,QFP,PLCC,LCC,SOT,SOP,TSSOP, SSOP,TSOP,TO,DIP等各种封装和规格测试座,测试治具,老化座,测试架,IC插座,具体类型,价格和交期请咨询客服!


客户提供机顶盒/路由器等产品的成品板,我们直接在客户主板上加工制作测试座用于批量测试DDR内存颗粒。机顶盒/路由器厂家内存颗粒贴板前测试良率,以及二手芯片贸易商出货前保证良率的好帮手!


另外我们还可以定制各种DDR/GDDR/LPDDR测试治具(最少间距可做到0.3mm,根据客户提供的PCB板单独设计)
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