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主营产品:定制测试座、老化测试座、弹片微针模组、memory测试座、测试夹具、BGA老化测试、QFN老化测试、Flash闪存测试、编程烧录座

DDR封装系列

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DDR3内存颗粒测试座8位_16位通用socket_DDR3探针测试座

定制类型:QFN、DFN、集成模块、BGA等芯片的各种:测试座、老化座、测试治具、测试夹具、自动化设备等。
常见芯片:WIFI、互联网、传感器、车规芯片、电源芯片等。
PCB定制:可以提供通用转48pin双排针转接板、也可以根据需求定制,免费画板。
IC脚位间距:0.2、0.3、0.35、0.4、0.45、0.5、0.65、0.8、1.0、1.27、2.54mm等。
IC封装:QFN、QFP、BGA、DFN、传感器、晶振、电源芯片等(弹性结构,可兼容不同厚度)
高低温范围:常规-55°C~+180°C,更高温度可定制。
高低频率范围:常规1Ghz~5Ghz,更高频率可定制。
适用于:测试、烧录、老化、分析芯片。
使用寿命:普通测试、烧录10万次。(有更长可选用)
交期:普通交期3~5天,定制交期:7个工作日。


针管:磷铜

针头:铍铜

弹簧:琴钢丝

额定电流:1.5A

接触阻抗:65-182 mohm(最大工作行程状态下)

压力:28g±20%(工作行程内)

测试寿命:10 万次


订购热线:19921126284

(电话微信同号)

工厂介绍

谷易电子生DDR3内存颗粒测试座8位_16位通用socket_DDR3探针测试座产    同时专业定制BGA,LGA,CSP,QFN,DFN,QFP,PLCC,LCC,SOT,SOP,TSSOP, SSOP,TSOP,TO,DIP等各种封装和规格测试座,测试治具,老化座,测试架,IC插座,具体类型,价格和交期请咨询客服!


规格:

1、DDR3 78/96 Ball ptich:0.8
2、频率F:超过2800Mhz
3、适用于:三星、海力士、现代、华邦、镁光等各品牌内存颗粒
材料&特性:
1、Socket材料:优质铝合金、工程玻纤
2、探针:
材料:
针管:磷铜
针头:铍铜
弹簧:琴钢丝
电气性能:
额定电流:1.5A
接触阻抗:65-182 mohm(最大工作行程状态下)
机械性能:
压力:28g±20%(工作行程内)
测试寿命:10 万次
产品特点:
2、无需客户lay板,直接采用客户提供的产品板,验证准确,最高主频率可以5GHZ;
2、socket只要四颗螺丝便可拆下,探针可以跟换,维护简单方便;
3、白色限位框,可以更换,适用于任何尺寸DDR3颗粒;
4、socket可以任意组合为一拖一、一拖二、一拖四,灵活测试;
5、灵活通用,所有DDR3 socket可以通用移植到任何产品上测试,大大提高了产品
的重复利用率,降低了客户的使用成本;
6、产品交期大大缩短,最快4个小时交货;
7、socket为标准设计,大大降低了加工成本,治具价格只有以前的一半;
8、体积较小,携带方便