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主营产品:定制测试座、老化测试座、弹片微针模组、memory测试座、测试夹具、BGA老化测试、QFN老化测试、Flash闪存测试、编程烧录座

QFN/DFN封装系列

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QFN48-0.5(7*7)翻盖弹片芯片测试座

定制类型:QFN、DFN、集成模块、BGA等芯片的各种:测试座、老化座、测试治具、测试夹具、自动化设备等。
常见芯片:WIFI、互联网、传感器、车规芯片、电源芯片等。
PCB定制:可以提供通用转48pin双排针转接板、也可以根据需求定制,免费画板。
IC脚位间距:0.2、0.3、0.35、0.4、0.45、0.5、0.65、0.8、1.0、1.27、2.54mm等。
IC封装:QFN、QFP、BGA、DFN、传感器、晶振、电源芯片等(弹性结构,可兼容不同厚度)
高低温范围:常规-55°C~+180°C,更高温度可定制。
高低频率范围:常规1Ghz~5Ghz,更高频率可定制。
适用于:测试、烧录、老化、分析芯片。
使用寿命:普通测试、烧录10万次。(有更长可选用)
交期:普通交期3~5天,定制交期:7个工作日。


产品用途:

编程座、测试座,对QFN48的IC芯片进行烧写、测试

适用封装:QFN48,MLP48,MLF48 引脚间距0.5mm
测试座:48QN50K17070

特点:

QFN48转DIP48,底板引出为双列直插排针,

引脚间距2.54mm(100mil),

宽度1.52cm(600mil)


订购热线:19921126284

(电话微信同号)

QFN48-0.5(7*7)翻盖弹片双层板芯片烧录座


产品简介

产品用途 编程座、测试座,对QFN48的IC芯片进行烧写、测试
适用封装 QFN48,MLP48,MLF48 引脚间距0.5mm
测试座 48QN50K17070
特点 QFN48转DIP48,底板引出为双列直插排针,引脚间距2.54mm(100mil),宽度1.52cm(600mil)

规格尺寸

QFN48转DIP48 编程座/测试座适用芯片详细规格,以及适配座外形尺寸:

型号 引脚间距 引脚数 适用IC尺寸 外型尺寸 中心脚
实体
A x B
48QN50K17070 0.5 48 7 × 7 27.43 x 20.32
产品用途:编程座、测试座,对QFN48的IC芯片进行烧写、测试
适用封装:QFN48,MLP48,MLF48 引脚间距0.5mm
测试座:48QN50K17070
特点:QFN48转DIP48,底板引出为双列直插排针,引脚间距2.54mm(100mil),宽度1.52cm(600mil)