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主营产品:定制测试座、老化测试座、弹片微针模组、memory测试座、测试夹具、BGA老化测试、QFN老化测试、Flash闪存测试、编程烧录座

QFN/DFN封装系列

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定制QFN68-0.4芯片座 QFN68-0.4CPO1GT测试座镀金插针8-8测试编程座

适配芯片规格尺寸

A、型号:QFN-68-0.4

B、引脚间距(mm):0.4

C、脚位:68

D、芯片尺寸:8*8

订购热线:18824309157

厂家介绍:


谷易电子生产定制QFN68-0.4芯片座 QFN68-0.4CPO1GT测试座镀金插针8-8测试编程座,同时生产其他IC测试设备
产品简介


A、产品用途:编程座、测试座,对QFN68的IC芯片进行烧写、测试

B、适用封装:QFN68引脚间距0.4mm

C、测试座:QFN68-0.4

D、特点:采用U型顶针,接触更稳定

E、我司可提供规格书(布板图),PDF档\CAD

适配芯片规格尺寸

A、型号:QFN-68-0.4

B、引脚间距(mm):0.4

C、脚位:68

D、芯片尺寸:8*8