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主营产品:定制测试座、老化测试座、弹片微针模组、memory测试座、测试夹具、BGA老化测试、QFN老化测试、Flash闪存测试、编程烧录座
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QFN19pin测试座规格
芯片封装类型:QFN
芯片引脚:19pin
芯片引脚间距:0.65mm
芯片尺寸:5×3.2mm
测试座结构:翻盖式
测试座材料:合金
深圳谷易电子生产的QFN19pin封装芯片翻盖合金探针测试座
QFN19pin封装芯片测试夹具
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