深圳市谷易电子有限公司欢迎您!

深圳市谷易电子有限公司

“谷”聚天下之检测
“易”通世界之雄芯
谷易电子

全国服务热线:

13823541376

产品中心Product Center

深圳市谷易电子有限公司

联系电话:13823541376

联系人:兰小姐

邮箱:sales@goodesocket.com

主营产品:定制测试座、老化测试座、弹片微针模组、memory测试座、测试夹具、BGA老化测试、QFN老化测试、Flash闪存测试、编程烧录座

QFN/DFN封装系列

当前位置:首页 > 产品中心 > QFN/DFN封装系列

Loading...

QFN62pin封装芯片探针老化座

QFN62pin老化测试座规格参数:

芯片封装类型:QFN

芯片引脚:62pin

芯片引脚间距:0.4mm、0.425mm、0.45mm

芯片尺寸:12×12mm

芯片厚度:0.75mm



深圳谷易电子生产的QFN62pin封装芯片探针老化座的产品概述、性能、特点、规格、应用、生产厂家介绍

QFN芯片老化座,QFN芯片测试座,QFN芯片烧录座

QFN62pin芯片老化测试要求:

测试频率:200Mhz

测试电流:1A以内

老化测试温度:130°C,持续老化500小时

老化座结构:翻盖式

老化座材料:合金