深圳谷易电子生产的QFN100pin封装芯片测试座socket_概述_性能_特点_规格_应用

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主营产品：定制测试座、老化测试座、弹片微针模组、memory测试座、测试夹具、BGA老化测试、QFN老化测试、Flash闪存测试、编程烧录座

QFN/DFN封装系列

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QFN100pin封装芯片测试座socket

QFN100pin芯片测试座规格参数：
芯片封装类型：QFN
芯片引脚：100pin
芯片尺引脚间距：0.5mm
芯片尺寸：8×8mm

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QFN芯片测试座、QFN芯片老化座、QFN芯片烧录座

QFN100pin芯片测试条件要求：

芯片测试电流：700mA

芯片测试频率：500Mhz

芯片测试温度：常温

测试座结构：翻盖式

测试座材料：合金