深圳谷易电子生产的QFN12pin芯片测试座socket_概述_性能_特点_规格_应用

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主营产品：定制测试座、老化测试座、弹片微针模组、memory测试座、测试夹具、BGA老化测试、QFN老化测试、Flash闪存测试、编程烧录座

QFN/DFN封装系列

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QFN12pin芯片测试座socket

QFN12pin芯片测试座规格参数：
芯片封装类型：QFN
芯片引脚：12pin
芯片引脚间距：0.5mm
芯片尺寸：3×3mm

深圳谷易电子生产的QFN12pin芯片测试座socket的产品概述、性能、特点、规格、应用、生产厂家介绍

QFN芯片测试座、QFN芯片烧录座、QFN芯片老化座

QFN12pin芯片测试条件要求：

芯片测试电流：80mA

芯片测试电压：5V

芯片测试频率：100Mhz

测试温度：常温

测试座结构：翻盖

测试座材料：合金