深圳谷易电子生产的QFN64pin芯片老化测试座socket_概述_性能_特点_规格_应用

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主营产品：定制测试座、老化测试座、弹片微针模组、memory测试座、测试夹具、BGA老化测试、QFN老化测试、Flash闪存测试、编程烧录座

QFN/DFN封装系列

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QFN64pin芯片老化测试座socket

QFN64pin芯片老化座规格尺寸
型号:QFN-64-0.4
引脚间距(mm):0.4、0.35、0.5mm
脚位:64pin
芯片尺寸:8*8mm、7*7mm

深圳谷易电子生产的QFN64pin芯片老化测试座socket的产品概述、性能、特点、规格、应用、生产厂家介绍

产品简介

产品用途:编程座、测试座，对QFN64的IC芯片进行老化、测试

适用封装:QFN64引脚间距0.4mm

测试座:QFN64-0.4

特点:采用U型顶针，接触更稳定，寿命长，机械寿命：10W次

工作温度：-55℃~155℃ 电流：1A max

我司可提供规格书（布板图），PDF档\CAD

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