深圳谷易电子生产的QFN32pin芯片老化测试座socket_概述_性能_特点_规格_应用

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主营产品：定制测试座、老化测试座、弹片微针模组、memory测试座、测试夹具、BGA老化测试、QFN老化测试、Flash闪存测试、编程烧录座

QFN/DFN封装系列

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QFN32pin芯片老化测试座socket

QFN32pin芯片老化测试座规格参数
芯片封装类型：QFN
芯片引脚：32pin
芯片引脚间距：0.5mm
芯片尺寸：0.5*0.5mm

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QFN芯片老化座、QFN芯片烧录座、QFN芯片测试座

产品简介：

适用于QFN芯片老化测试、烧录、测试

芯片测试电压：6V

芯片测试电流：100mA

芯片测试频率：72Mhz

测试座结构：翻盖式

测试座材料：塑胶