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主营产品:定制测试座、老化测试座、弹片微针模组、memory测试座、测试夹具、BGA老化测试、QFN老化测试、Flash闪存测试、编程烧录座

QFN/DFN封装系列

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DFN54pin芯片探针测试座socket

DFN芯片测试座规格参数:
芯片封装:DFN
芯片引脚:54pin
芯片引脚间距:0.45mm
芯片尺寸:5*6mm

深圳谷易电子生产的DFN54pin芯片探针测试座socket的产品概述、性能、特点、规格、应用、生产厂家介绍

该款测试座适用于DFN54芯片测试、烧录、老化

产品简介:

芯片测试电流:小于1A以内

芯片测试频率:1Ghz以内

客户要求主要做芯片导通测试

测试座结构:翻盖式

测试座材料:合金