深圳谷易电子生产的QFN24pin芯片探针老化座socket_概述_性能_特点_规格_应用

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主营产品：定制测试座、老化测试座、弹片微针模组、memory测试座、测试夹具、BGA老化测试、QFN老化测试、Flash闪存测试、编程烧录座

QFN/DFN封装系列

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QFN24pin芯片探针老化座socket

QFN芯片老化测试座规格参数：
芯片封装类型：QFN
芯片引脚：24pin
芯片引脚间距：0.5mm
芯片尺寸：3.5×5.5mm

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该款探针老化座适用于QFN24pin芯片烧录、老化、测试用

产品测试简介：

芯片测试电流：1A

芯片测试频率：1000Mhz

芯片老化测试温度：-55°~150°

老化测试座结构：翻盖式-探针结构

老化座材料：合金