深圳谷易电子生产的QFN60pin探针测试座socket_概述_性能_特点_规格_应用

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热搜关键词： 微针模组、BGA、DDR、SOP/TSOP、QFP、TO封装系列

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主营产品：定制测试座、老化测试座、弹片微针模组、memory测试座、测试夹具、BGA老化测试、QFN老化测试、Flash闪存测试、编程烧录座

QFN/DFN封装系列

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QFN60pin探针测试座socket

QFN60pin芯片测试座规格参数：
芯片封装类型：QFN
芯片引脚：60pin
芯片引脚间距：0..55mm
适用芯片尺寸：12×6.6mm

深圳谷易电子生产的QFN60pin探针测试座socket的产品概述、性能、特点、规格、应用、生产厂家介绍

适用芯片测试环境：老化、烧录、测试，芯片功能性测试

芯片测试频率：20Ghz（有测试插损、回损要求）

芯片测试电流：200mA

芯片测试座结构：翻盖式

芯片测试座材料：合金