深圳谷易电子生产的qfn40pin芯片老化座socket_概述_性能_特点_规格_应用

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热搜关键词： 微针模组、BGA、DDR、SOP/TSOP、QFP、TO封装系列

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主营产品：定制测试座、老化测试座、弹片微针模组、memory测试座、测试夹具、BGA老化测试、QFN老化测试、Flash闪存测试、编程烧录座

QFN/DFN封装系列

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qfn40pin芯片老化座socket

QFN40pin芯片测试座规格参数：
芯片封装类型：QFN
芯片引脚：40pin
芯片引脚间距：0.5mm
适配芯片尺寸：6*6mm

深圳谷易电子生产的qfn40pin芯片老化座socket的产品概述、性能、特点、规格、应用、生产厂家介绍

适配芯片测试环境：芯片老化、测试、烧录

产品简介：

芯片老化测试温度：-45°~+155°，芯片老化持续测试时长：1000小时

芯片测试电流：1A以内

芯片测试频率：1Ghz

老化座结构：翻盖式

老化座材料：塑胶