深圳谷易电子生产的DFN8pin芯片老化测试座socket_概述_性能_特点_规格_应用

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主营产品：定制测试座、老化测试座、弹片微针模组、memory测试座、测试夹具、BGA老化测试、QFN老化测试、Flash闪存测试、编程烧录座

QFN/DFN封装系列

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DFN8pin芯片老化测试座socket

DFN8pin芯片老化座规格参数：
芯片封装类型：DFN
芯片引脚：8pin
芯片引脚间距：0.5mm
适配芯片尺寸：2*2mm

深圳谷易电子生产的DFN8pin芯片老化测试座socket的产品概述、性能、特点、规格、应用、生产厂家介绍

适配IC封装：DFN/QFN/WSON，适用芯片测试场景：老化/测试/烧录
产品简介：
老化座结构：翻盖式
测试座类型：老化测试座
寿命:1.5万次
工作温度:-55°C~155°C
适配IC尺寸图如下：