深圳谷易电子生产的DFN8pin芯片老化测试座socket_概述_性能_特点_规格_应用

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主营产品：定制测试座、老化测试座、弹片微针模组、memory测试座、测试夹具、BGA老化测试、QFN老化测试、Flash闪存测试、编程烧录座

QFN/DFN封装系列

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DFN8pin芯片老化测试座socket

DFN8老化测试座规格参数：
芯片封装形式：DFN
芯片引脚：8pin
芯片引脚间距：0.65mm
适配芯片尺寸：3.3*3.3mm

深圳谷易电子生产的DFN8pin芯片老化测试座socket的产品概述、性能、特点、规格、应用、生产厂家介绍

适用DFN8封装形式的芯片：测试、老化、编程、烧录、转接，适用芯片功能性测试测试

产品简介：

芯片测试电流：3A持续电流

测试电压：100V

测试频率：1Ghz

老化测试高低温度范围：-45° ~+155°，老化测试持续96小时

老化座结构：翻盖式