深圳谷易电子生产的CQFN21pin芯片老化测试座socket_概述_性能_特点_规格_应用

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主营产品：定制测试座、老化测试座、弹片微针模组、memory测试座、测试夹具、BGA老化测试、QFN老化测试、Flash闪存测试、编程烧录座

QFN/DFN封装系列

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CQFN21pin芯片老化测试座socket

CQFN21pin芯片老化测试座规格参数：
芯片封装形式：CQFN
芯片引脚：21pin
芯片引脚间距：0.6mm
适配芯片尺寸：7.5*7.5mm

深圳谷易电子生产的CQFN21pin芯片老化测试座socket的产品概述、性能、特点、规格、应用、生产厂家介绍

适用CQFN芯片测试环境：老化、测试、烧录

CQFN21pin芯片老化座产品简介：

芯片老化测试温度：-55°~+125°

芯片老化测试时长：满足单次1000小时（多次使用）

芯片测试电流：1A

芯片测试工号：6W

芯片测试电压：30V

老化座结构：翻盖式

老化座材料：塑胶