深圳谷易电子生产的DFN8pin芯片无磁测试座socket_概述_性能_特点_规格_应用

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主营产品：定制测试座、老化测试座、弹片微针模组、memory测试座、测试夹具、BGA老化测试、QFN老化测试、Flash闪存测试、编程烧录座

QFN/DFN封装系列

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DFN8pin芯片无磁测试座socket

DFN8pin芯片无磁测试座规格参数：
适用芯片封装形式：DFN/USON/QFN/WSON
芯片引脚：8pin
芯片引脚间距：0.5mm
适配芯片尺寸：2*2mm

深圳谷易电子生产的DFN8pin芯片无磁测试座socket的产品概述、性能、特点、规格、应用、生产厂家介绍

适用DFN8pin芯片测试环境：老化、测试、烧录，适用封装：DFN8/USON8/QFN8/WSON8等传感器芯片测试

DFN8pin芯片测试座产品简介：

芯片测试电流：3A

芯片测试温度：-55°~+125°，温度循环每小时两次

芯片测试电压：5V

芯片测试频率：1Ghz以内

芯片测试座结构：翻盖式

芯片测试座材料：要求零部件为无磁性

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