深圳谷易电子生产的QFN40pin芯片探针测试座socket_概述_性能_特点_规格_应用

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主营产品：定制测试座、老化测试座、弹片微针模组、memory测试座、测试夹具、BGA老化测试、QFN老化测试、Flash闪存测试、编程烧录座

QFN/DFN封装系列

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QFN40pin芯片探针测试座socket

QFN40pin芯片测试座规格参数：
芯片封装形式：QFN
芯片引脚：40pin
芯片引脚间距：0.5mm
适配芯片尺寸：6*6mm

深圳谷易电子生产的QFN40pin芯片探针测试座socket的产品概述、性能、特点、规格、应用、生产厂家介绍

适用QFN40pin芯片测试环境：老化、测试、烧录，可用于QFN芯片HAST高温高湿测试/HTOL测试

QFN40pin芯片测试座产品简介：

芯片测试频率：300Mhz

芯片测试电流：100mA

芯片测试座温度：-45°~+125°

芯片测试座结构：翻盖式

芯片测试座材料：合金