深圳谷易电子生产的DFN8/QFN8/WSON8/pin芯片测试座socket—芯片测试夹具_概述_性能_特点_规格_应用

深圳市谷易电子有限公司欢迎您！

热搜关键词： 微针模组、BGA、DDR、SOP/TSOP、QFP、TO封装系列

深圳市谷易电子有限公司

联系电话：13823541376

联系人：兰小姐

邮箱：sales@goodesocket.com

主营产品：定制测试座、老化测试座、弹片微针模组、memory测试座、测试夹具、BGA老化测试、QFN老化测试、Flash闪存测试、编程烧录座

QFN/DFN封装系列

当前位置：首页 > 产品中心 > QFN/DFN封装系列

DFN8/QFN8/WSON8/pin芯片测试座socket—芯片测试夹具

DFN8pin芯片测试座规格参数：
芯片封装形式：DFN
芯片引脚：8pin
芯片引脚间距：1.27mm
适配芯片尺寸：5*6mm

深圳谷易电子生产的DFN8/QFN8/WSON8/pin芯片测试座socket—芯片测试夹具的产品概述、性能、特点、规格、应用、生产厂家介绍

适用DFN8/WSON8/QFN8/LGA8pin芯片测试环境：老化、测试、烧录

DFN8pin芯片测试座产品简介：

芯片测试频率：2Ghz

芯片测试温度：-40°~+125°

芯片测试电流：1A

芯片测试座结构：翻盖式

芯片测试座材料：合金