深圳谷易电子生产的DFN10pin探针芯片老化座socket—dfn芯片老炼夹具_简介_性能_特点_规格_应用

深圳市谷易电子有限公司欢迎您！

热搜关键词： 微针模组、BGA、DDR、SOP/TSOP、QFP、TO封装系列

产品中心Product Center

深圳市谷易电子有限公司

联系电话：13823541376

联系人：兰小姐

邮箱：sales@goodesocket.com

主营产品：定制测试座、老化测试座、弹片微针模组、memory测试座、测试夹具、BGA老化测试、QFN老化测试、Flash闪存测试、编程烧录座

QFN/DFN封装系列

当前位置：首页 > 产品中心 > QFN/DFN封装系列

DFN10pin探针芯片老化座socket—dfn芯片老炼夹具

DFN10pin芯片测试座规格参数：
芯片封装形式：DFN
芯片引脚：10pin
芯片引脚间距：0.4mm
适配芯片尺寸：1.8*2.1mm

深圳谷易电子生产的DFN10pin探针芯片老化座socket—dfn芯片老炼夹具的产品简介、性能、特点、规格、应用、生产厂家介绍

适用DFN10pin芯片测试环境：老化、测试、烧录，支持芯片HAST/HTOL高温高湿测试

DFN10pin芯片老炼夹具产品简介：

芯片老化测试温度：-45°~+125°，满足1000小时

芯片测试电流：500mA

芯片测试频率：300Mhz

芯片老炼座结构：翻盖式

芯片老化座材料：塑胶

上一篇： QFN16pin芯片测试座socket—qfn芯片测试夹具

下一篇： QFN48pin芯片测试座socket—qfn芯片测试夹具

产品中心Product Center

DFN10pin探针芯片老化座socket—dfn芯片老炼夹具

在线咨询