深圳谷易电子生产的WSON8pin芯片测试座socket—WSON8芯片测试夹具_简介_性能_特点_规格_应用

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主营产品：定制测试座、老化测试座、弹片微针模组、memory测试座、测试夹具、BGA老化测试、QFN老化测试、Flash闪存测试、编程烧录座

QFN/DFN封装系列

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WSON8pin芯片测试座socket—WSON8芯片测试夹具

WSON8pin芯片测试夹具规格参数：
芯片封装形式：WSON
芯片引脚：8pin
芯片引脚间距：0.5mm
适配芯片尺寸：2*2mm

深圳谷易电子生产的WSON8pin芯片测试座socket—WSON8芯片测试夹具的产品简介、性能、特点、规格、应用、生产厂家介绍

适用WSON8pin芯片测试环境：老化、测试、烧录，支持封装：QFN8/DFN8/LGA8，芯片性能测试、芯片可靠性测试、芯片功能性测试

WSON8pin芯片测试座socket产品简介：

芯片测试频率：200Mhz

芯片测试电流：150mA

芯片测试温度：-45°~+125°

芯片测试座结构：分离式压合

芯片测试座材料：PEEK+蓝宝石

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