深圳谷易电子生产的QFN20pin芯片测试座socket—qfn芯片测试socket_简介_性能_特点_规格_应用

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主营产品：定制测试座、老化测试座、弹片微针模组、memory测试座、测试夹具、BGA老化测试、QFN老化测试、Flash闪存测试、编程烧录座

QFN/DFN封装系列

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QFN20pin芯片测试座socket—qfn芯片测试socket

QFN20pin芯片测试夹具规格参数：
芯片封装形式：QFN
芯片引脚：20pin
芯片引脚间距：1.27mm
适配芯片尺寸：8.91*8.91mm
芯片厚度：2.7mm

深圳谷易电子生产的QFN20pin芯片测试座socket—qfn芯片测试socket的产品简介、性能、特点、规格、应用、生产厂家介绍

适用QFN20pin芯片测试环境：老化、测试、烧录，芯片性能测试、芯片可靠性测试、芯片功能性测试

QFN20pin芯片测试座产品简介：

芯片测试电流：直流1A，瞬态3A

脉冲时间：10uS

芯片测试频率：300Mhz

芯片测试温度：-45°~+125°

芯片测试座结构：翻盖式

芯片测试夹具材料：合金

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