深圳谷易电子生产的QFN40pin芯片老炼测试座socket—qfn芯片老化测试夹具_简介_性能_特点_规格_应用

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主营产品：定制测试座、老化测试座、弹片微针模组、memory测试座、测试夹具、BGA老化测试、QFN老化测试、Flash闪存测试、编程烧录座

QFN/DFN封装系列

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QFN40pin芯片老炼测试座socket—qfn芯片老化测试夹具

QFN40pin芯片老炼夹具规格参数：
芯片封装形式：QFN
芯片引脚：40pin
芯片引脚间距：0.4mm
适配芯片尺寸：5*5mm

深圳谷易电子生产的QFN40pin芯片老炼测试座socket—qfn芯片老化测试夹具的产品简介、性能、特点、规格、应用、生产厂家介绍

适用于QFN40pin芯片测试环境：老练、测试、烧录，支持芯片可靠性测试、芯片高性能测试、芯片性能测试，芯片HAST/HTOL测试

QFN40pin芯片老化测试夹具产品简介：

芯片HAST测试：需要多次试验

芯片老炼测试温度：+125°

芯片测试湿度：85%

芯片HAST测试时长：180小时/轮

芯片老炼座结构：翻盖式

芯片老化测试座夹具材料：PEI

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