深圳谷易电子生产的QFN24pin芯片老炼测试座—qfn芯片老化测试座_简介_性能_特点_规格_应用

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主营产品：定制测试座、老化测试座、弹片微针模组、memory测试座、测试夹具、BGA老化测试、QFN老化测试、Flash闪存测试、编程烧录座

QFN/DFN封装系列

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QFN24pin芯片老炼测试座—qfn芯片老化测试座

QFN芯片老炼测试夹具规格参数：
芯片封装形式：QFN
芯片引脚：24pin
芯片引脚间距：0.45mm
适配芯片尺寸：4*4mm
接触介质：探针
芯片老化座结构：翻盖

深圳谷易电子生产的QFN24pin芯片老炼测试座—qfn芯片老化测试座的产品简介、性能、特点、规格、应用、生产厂家介绍

适用于QFN24pin芯片测试环境：老化、测试、烧录，支持芯片可靠性测试、芯片高性能测试，芯片功能性测试

QFN24pin芯片老化测试座产品简介：

该款老炼座支持QFN芯片HAST测试、HTOL测试

芯片HTOL测试：+125°，单次满足2000h

芯片HAST测试：+130°，85%湿度，单次老化时长：190h

芯片测试电流：整体过流1A以内

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QFN24pin芯片老炼测试座—qfn芯片老化测试座

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