深圳谷易电子生产的QFN64pin芯片测试座socket—qfn芯片测试夹具,简介,性能,特点,规格,应用,生产厂家

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主营产品：定制测试座、老化测试座、弹片微针模组、memory测试座、测试夹具、BGA老化测试、QFN老化测试、Flash闪存测试、编程烧录座

QFN/DFN封装系列

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QFN64pin芯片测试座socket—qfn芯片测试夹具

QFN64pin芯片测试座socket规格参数：
芯片封装形式：QFN
芯片引脚：64pin
芯片引脚间距：1.71mm
适配芯片尺寸：30.48*30.48mm
接触介质：探针
测试座结构：双扣式
测试座材料：合金、PEEK

深圳谷易电子生产的QFN64pin芯片测试座socket—qfn芯片测试夹具的产品简介,性能,特点,规格,应用,生产厂家介绍

适用于QFN64pin芯片模拟电路测试环境：老化、测试、烧录，支持芯片可靠性测试、芯片功能性测试、芯片高性能测试。

QFN64pin芯片测试夹具产品简介：

芯片测试电流：满足单pin过流1A

芯片测试频率：600Mhz

芯片测试温度：+85°

芯片测试功耗：12W

我厂支持非标来图一件定制，提供完善的整套IC测试解决方案，并可提供类似案例参考，详询请联系客服

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