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主营产品:定制测试座、老化测试座、弹片微针模组、memory测试座、测试夹具、BGA老化测试、QFN老化测试、Flash闪存测试、编程烧录座

QFN/DFN封装系列

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DFN8pin芯片开尔文测试座socket—DFN器件测试夹具

DFN8pin芯片测试座规格参数:
封装形式:DFN芯片/功率器件
引脚:8pin
引脚中心间距:2.0mm
适配尺寸:8*8*0.85mm
接触介质:探针
测试座结构:下压式
测试座材料:合金+PEEK

深圳谷易电子生产的DFN8pin芯片开尔文测试座socket—DFN器件测试夹具的产品简介,性能,特点,规格,应用,生产厂家介绍

深圳谷易电子生产提供封装种类齐全BGA/EMMC/EMCP/QFP/QFN/SOP/SOT/TO/LGA/LCC/DDR/FPC/connector/IMU socket等,大量现货标准品,并支持一件定制。

产品介绍: 
产品名称:DFN8pin-2.0mm合金下压式探针开尔文测试座 
使用用途:对DFN8pin芯片/器件进行模拟电路测试,性能测试用,支持芯片/器件功能性测试,芯片/器件可靠性测试 
性能参数:温度:150度,单pin3A电流,10A脉冲100uS,要求:10万次寿命,开尔文结构