深圳谷易电子生产的DFN4pin-1X1mm(0.65mm)转DIP4pin镀金老化测试座_概述_性能_特点_规格_应用

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主营产品：定制测试座、老化测试座、弹片微针模组、memory测试座、测试夹具、BGA老化测试、QFN老化测试、Flash闪存测试、编程烧录座

QFN/DFN封装系列

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DFN4pin-1X1mm(0.65mm)转DIP4pin镀金老化测试座

芯片封装类型：DFN

PIN脚：4pin

间距 : 0.65mm

尺寸 : 1.0x1.0mm

高低温范围 : -45℃ ~ +175℃

订购热线：13823541217
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深圳谷易电子生产的DFN4pin-1X1mm(0.65mm)转DIP4pin镀金老化测试座

测试座型号 :DFN1X1-4L(0.65)翻盖式

IC整体宽度 : 1.0x1.0mm
IC 间距 : 0.65mm
IC 封装 :DFN1X1-4L(0.65)