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主营产品:定制测试座、老化测试座、弹片微针模组、memory测试座、测试夹具、BGA老化测试、QFN老化测试、Flash闪存测试、编程烧录座

EMCP/EMMC/UFS系列

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eMMC153-169测试座编程座BGA169烧录座汽车导航烧录

定制类型:QFN、DFN、集成模块、BGA等芯片的各种:测试座、老化座、测试治具、测试夹具、自动化设备等。
常见芯片:WIFI、互联网、传感器、车规芯片、电源芯片等。
PCB定制:可以提供通用转48pin双排针转接板、也可以根据需求定制,免费画板。
IC脚位间距:0.2、0.3、0.35、0.4、0.45、0.5、0.65、0.8、1.0、1.27、2.54mm等。
IC封装:QFN、QFP、BGA、DFN、传感器、晶振、电源芯片等(弹性结构,可兼容不同厚度)
高低温范围:常规-55°C~+180°C,更高温度可定制。
高低频率范围:常规1Ghz~5Ghz,更高频率可定制。
适用于:测试、烧录、老化、分析芯片。
使用寿命:普通测试、烧录10万次。(有更长可选用)
交期:普通交期3~5天,定制交期:7个工作日。



功能特点:适合研究开发EMMC NAND FLASH分折与测试


订购热线:13631539217

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功能特点:适合研究开发EMMC NAND FLASH分折与测试

※支持热拔插,可直接插读卡器与电脑连接测试。

※同时兼容:东芝、三星、海力士、Intel、Sandisk(新帝)等所有同样封装的4BIT、8BITeMMC

※同时兼容169-FBGA 153-FBGA ,不同尺寸IC(11.5x13,12x16,12x18,14x18mm),可自行更换限位框实现通用性降低使用成本。

※采用日本进口镀金弹弓针,性能稳定使用寿命长,使用寿命是同类产品的2.5倍以上;

※兼容有球无球测试,通用性好,降低使用成本。

※采用手动翻盖式结构,操作方便简单。

※采用浮板结构,定位精确,取放IC方便,工作效率更高。

※可进行测试和低级格式化。